ネプコンジャパン2016に出展いたします。2016年1月13日〜1月15日

このたび、ネプコンジャパン2016内の第33回エレクトロテストジャパンエリアに
出展する運びとなりました。

今回の展示会では、

自動車・カードコネクタの高さ検査　
3面同時検査「全方位立体検査装置」
傷・異物検査
のデモンストレーションを行います。

展示会概要
2016年1月13日（水）～1月15日（金）
10：00～18：00（15日最終日は17:00まで）
公式ホームページ：http://www.nepcon.jp/ja/

会場：東京ビッグサイト
ブース：東2ホール E15-001
　　　　ネプコンジャパン2016内、第33回エレクトロテストジャパン

交通手段：ゆりかもめ 「国際展示場正門」駅下車　徒歩約3分
　　　　　りんかい線 「国際展示場」駅下車 　徒歩約7分

ネプコンジャパンにお越しの際は、ぜひ弊社ブースにお立ち寄りください。
皆様のご来場を、弊社一同心よりお待ち申し上げております。