このたび、ネプコンジャパン2017内の第34回エレクトロテストジャパンエリアに
出展する運びとなりました。
今回の展示会では、
①新コンセプト装置の初披露及び、デモンストレーション
②弊社の製品紹介
③外観検査の基本的な機器構成の展示
をさせていただきます。
展示会概要
日 時:2017年1月18日(水)~1月20日(金)
10:00~18:00(最終日は17:00まで)
公式ホームページ:http://www.electrotest.jp
会 場:東京ビッグサイト
ブース:東2ホール E16-001
ネプコンジャパン2017内、第34回エレクトロテストジャパン
交通手段:ゆりかもめ 「国際展示場正門」駅下車 徒歩約3分
りんかい線 「国際展示場」駅下車 徒歩約7分
ネプコンジャパンにお越しの際は、ぜひ弊社ブースにお立ち寄りください。
皆様のご来場を、弊社一同心よりお待ち申し上げております。
私たちは、外観検査・画像処理検査に関するエキスパート集団です。単なるメーカーではなく、画像処理アルゴリズム、光学技術、電気・機械の知識と経験を兼ね備える外観検査・画像処理検査装置メーカーとして、総合的なコンサルティングも可能とする、開発型エンジニアリング企業です。