ViSCO Technologies Corporation

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BGA 검사
간단한 설정으로 검사가 시작되는
BGA 전용 도구

볼,패턴 등록 등 검사 설정을 간단하게
실정하여 바로 검사 가능합니다.

자주 하는 고민

설정이
복잡하여
번거롭다.
볼의 등록 가능 갯수가
적어 대응 가능한
범위가 한정되어 있다.
볼의 높이도
같이 검사가
필요하다
ViSCO에서 해결해드립니다!

BGA 전용 도구로 바로 검사가 가능

BGA (Ball Grid Array) 패키지(내면)용 외관 검사 도구로 [BGA 검사 도구]를 탑재하였습니다.전용 도구인 만큼 볼,패턴 등록 등 검사 설정이 간단하며 바로 검사 가능합니다.

・등록 가능한 볼 갯수는 100×100=10,000개(최대)
・볼 세그먼트(자동,수동)
・쉽게 볼을 등록하는 기능
・볼 모델은 적산모델
・볼 모델에 마스크 처리도 가능
・볼 별 스코어,콘트라스트 체크 가능
・볼 위치를 자동 설정

검사 항목

준비되어 있는 항목을 선택하기만 하면 됩니다.

볼 품질:검색 스코어,콘트라스트
볼 외형:볼 직경,볼 진원도
볼 위치:X차분,Y차분,XY차분

복합 도구로 다양한 항목을 검사

범용적인 검사 도구 (BLOB 검사,DefFinder® 등)와의 조합으로 다양한 검사를 실현합니다.

내면

search-semiconductor_img_05.png

표면

search-semiconductor_img_06.png

패키지 검출/검사

패키지의 윤곽 부분 엣지에서 최적 직선을 구하고 그들의 교점에서 패키지의 위치를 검출합니다.
검출한 패키지 정보에 따라 다양한 검사가 가능합니다.

◯패키지 폭
◯패키지 높이
◯패키지 변형
◯패키지 깨짐
◯이물 혼입

고정밀 동적 마스크로 허보/누락 제어

크기 변동이 쉬운 실리콘 칩 등 객체라도 매개 각 모양의 엣지를 따라 마스크를 작성합니다.
각자 대상에 따라 정확하게 마스크 출력을 수행할 수 있습니다.

  • 모따기
  • 모깍이
  • 안쪽으로 모깍이

조명 조건을 교체하여 복수 검사

검사 항목에 따른 최적한 조명 조건으로 안정된 검사를 실현합니다.

조명 조건1

패키지 깨짐 검사

조명 조건2

볼 내부 이물 검사

당사 소개

외관검사 및 화상처리 검사 관련 전문가들로서 업계를 리드하는 제품을 제공해 드립니다.

저희는 외관검사,화상처리 검사와 관련된 전문가들입니다. 때문에 단순한 메이커가 아닌 화상처리 알고리즘,광학기술,전기/기계의 지식 및 경험을 겸비한 화상처리 검사장치 제조업자로서 종합적인 컨설팅도 가능한 개발형 엔지니어링 기업입니다.

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